• 256 个通道
• 片上，16 位模数转换器 (ADC)
• 光电二极管抗短路
• 数据线（列）抗短路
• 高性能：
• 噪声：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
• 积分非线性： 内部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
• 最小扫描时间：
  • 正常模式下为 37.9µs
  • 2x 双像素模式下为 20µs
• 集成：
• 8 个可选满量程范围： 0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
• 内置相关双采样器
• 针对更快速数据吞吐量的 2x 双像素模式（两个相邻通道的平均充电）
• 管道式积分和读取：积分期间允许数据读取
• 灵活性：
• 电子和空穴积分
• 低功耗：
• 具有 ADC 时，每通道 2.9mW
• 无 ADC 时，每通道 2.3mW
• 打盹模式时，每通道 0.1mW
• 总断电特性
• 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片， 适用于带载封装 (TCP) 和覆晶薄膜封装 (COF)

平板 X 射线检测器

AFE1256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE)，此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的的要求。 此器件包括 256 个积分器，一个用于满量程充电电平选择的可编程增益放大器 (PGA)，一个具有双组的相交双采样器 (CDS)，256:4 模拟复用器和四个板载 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。 ADC 提供格式为 SPI™ 的串行数据。

硬件可选积分极性可实现正或负电荷积分，并在系统设计中提供更多的灵活性。 此打盹特性大大节省了能耗。 这一节电特性特别适合于电池供电类系统。

此器件采用 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片。 此器件还提供采用单体化形式的 34.89mm x 39.625mm，344 端子覆晶薄膜 (COF) TDQ 封装和 38mm x 28mm，COF-314 TDS 封装。

• TLK1221 - 以太网收发器
• 74AC11032 - 四路 2 输入正或门
• TS5A3154 - 0.9Ω SPDT 模拟开关 5V/3.3V 单通道 2:1 多路复用器/多路解复用器
• UCC3837 - 8 引脚 N-FET 线性稳压器控制器
• CSD17505Q5A - 30V N 通道 NexFET? 功率 MOSFET，Vgs 为 20V
• TPS60401 - 具有固定 20kHz 操作的 60mA 充电泵电压反向器
• CD4055B - 具有显示频率输出的 CMOS BCD 到 7 段 LCD 解码器/驱动器
• LP2989LV - Micropower 500 mA Low Noise Low-Dropout Regulator for Applications with Output Voltages < 2V
• SN74ALS175 - 具有清零功能的四路 D 类上升沿触发器
• ADC122S051Q-Q1 - ADC122S051 双通道 200ksps 至 500 ksps 12 位 A/D 转换器