• 256 个通道
• 片上，16 位模数转换器 (ADC)
• 光电二极管抗短路
• 数据线（列）抗短路
• 高性能：
• 噪声：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
• 积分非线性： 内部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
• 最小扫描时间：
  • 正常模式下为 37.9µs
  • 2x 双像素模式下为 20µs
• 集成：
• 8 个可选满量程范围： 0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
• 内置相关双采样器
• 针对更快速数据吞吐量的 2x 双像素模式（两个相邻通道的平均充电）
• 管道式积分和读取：积分期间允许数据读取
• 灵活性：
• 电子和空穴积分
• 低功耗：
• 具有 ADC 时，每通道 2.9mW
• 无 ADC 时，每通道 2.3mW
• 打盹模式时，每通道 0.1mW
• 总断电特性
• 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片， 适用于带载封装 (TCP) 和覆晶薄膜封装 (COF)

平板 X 射线检测器

AFE1256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE)，此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的的要求。 此器件包括 256 个积分器，一个用于满量程充电电平选择的可编程增益放大器 (PGA)，一个具有双组的相交双采样器 (CDS)，256:4 模拟复用器和四个板载 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。 ADC 提供格式为 SPI™ 的串行数据。

硬件可选积分极性可实现正或负电荷积分，并在系统设计中提供更多的灵活性。 此打盹特性大大节省了能耗。 这一节电特性特别适合于电池供电类系统。

此器件采用 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片。 此器件还提供采用单体化形式的 34.89mm x 39.625mm，344 端子覆晶薄膜 (COF) TDQ 封装和 38mm x 28mm，COF-314 TDS 封装。

• CD74HCT253 - 高速 CMOS 逻辑双路 4 输入多路复用器
• PTH12030L - 0.8V 至 1.8V 26A 输出 12V 输入的非隔离宽调节模块
• TPS7A7001 - 单路输出、极低输入、可调节（0.9V 至 5.0V） 2A 低压降线性稳压器
• TLK2201AJR - 1.0 至 1.6Gbps 千兆以太网收发器
• CD74ACT158 - 四路反向 2 输入多路复用器
• TPS3831G12 - 150nA 超低电流、超小型电压监控器
• CD74HCT670 - 高速 CMOS 逻辑 4 x 4 寄存器文件
• ADC78H90 - 8 通道、500 KSPS、12 位 A/D 转换器
• TAS5708 - 具有片上 DRC 和扬声器均衡的 20W 立体声闭环 12S 输入音频功率放大器
• TS3USB221E - 具有单使能端的高速 USB 2.0 (480Mbps) 1:2 多路复用器/多路解复用器开关