• 关于 AEC-Q100 1 级/0 级/0 级扩展标准（符合 AEC-Q100 标准并采用汽车级流程制造），请参见 LM57-Q1 数据表
• 可通过外部电阻在 −40°C 至 +150°C 温度范围内设置跳变温度，精度为 ±1.7°C 或 ±2.3°C
• 电阻容差不会引入误差
• 推挽和开漏开关输出
• 宽工作温度范围：−50°C 至 150°C
• 超线性模拟 VTEMP 温度传感器输出，−50°C 至 +150°C 温度范围内的精度为 ±0.8°C 或 ±1.3°C
• 具有短路保护的模拟和数字输出
• 数字输出具有锁存功能
• TRIP-TEST 引脚支持系统内测试
• 低功耗特性最大程度减少自发热，使其低于 0.02°C

• 工厂自动化
• 工业用
• 汽车用
• 井下设备
• 航空电子设备
• 电信基础设施

LM57 器件是一款具有模拟温度传感器输出的精密双路输出温度开关，适用于宽温度范围的工业级应用。 跳变温度 (TTRIP) 可从 –40°C 至 150°C 温度范围内的 256 种可能值中进行选择。VTEMP 是 AB 类模拟电压输出，该电压输出与温度成正比，负温度系数 (NTC) 可编程。 两个外部 1% 电阻设置 TTRIP 和 VTEMP 斜率。 数字和模拟输出具有保护功能，并且可监视系统过热事件。

内置的热滞后功能 (THYST) 可防止数字输出发生振荡。 TOVER 和 TOVER 数字输出将在芯片温度超过 TTRIP 时置为有效，在芯片温度低于 TTRIP 与 THYST 的差值时置为无效。

TOVER 为高电平有效，并且采用推挽结构。 TOVER 为低电平有效，并且采用开漏结构。 将 TOVER 与 TRIP-TEST 相连，可在输出发生跳变后将其锁存。 将 TRIP-TEST 强制为低电平可将输出清零。 将 TRIP-TEST 驱动为高电平会将数字输出置为有效。 处理器可检查 TOVER 或 TOVER 的状态，从而确认它们是否已切换至激活状态。 这样一来，便可以在系统装配后现场验证比较器和输出电路的功能。 当 TRIP-TEST 为高电平时，VTEMP 引脚为跳变基准电压。 系统随后可使用该电压计算 LM57

• SN65LVDT101 - 2Gbps LVDS/LVPECL/CML 至 LVPECL 中继器/转换器
• SN54LS38 - 具有集电极开路输出的四路 2 输入正与非缓冲器
• BQ24616 - 符合 JEITA 标准的独立同步开关模式锂离子或锂聚合物电池充电器
• UCC2894 - 电流模式有源钳位 PWM 控制器
• PTH08T220W - 采用 TurboTrans 技术的 16A 输出 4.5V 至 14V 输入的非隔离宽输出调节电源模块
• LM95234 - 采用 TruTherm 技术且具有 SMBus 接口的 ±2°C 四路远程和本地温度传感器
• SN54LS112A - 具有预设和清零功能的双路 J-K 下降沿触发器
• SN74LS132 - 四路 2 输入正与非施密特触发器
• SN65HVD101 - 用于器件节点的 IO-LINK PHY
• BQ25505 - 具有升压充电器的超低功耗收集电源管理 IC 以及自主电源复用器