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SN74AUC2G00 - 产品图解:

TI芯片:
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- CLC730245/NOPB - 开发板,套件,编程器 > 评估板 > 运算放大器评估板
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- TPS61085TDGKR - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > 稳压器 - DC-DC 开关稳压器
- AMC1304M05EVM - 开发板,套件,编程器 > 评估板 > 模数转换器(ADC)评估板
- TPS25772Q1EVM-150 - 开发板,套件,编程器 > 评估板 > 评估和演示板及套件
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- SN74ACT373NSR - 集成电路(IC) > 逻辑 > 锁存器
- UC3865QG3 - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > AC DC 转换器,离线开关
- S5LS10206ASPGEQQ1 - 集成电路(IC) > 嵌入式 > 微控制器
- UCC284DPTR-ADJG4 - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > 稳压器 - 线性
- LM3638A1YFDR - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > LED 驱动器
- PTH03030WAZT - 板安装电源 > 直流转换器
- SN74ACT573PWR - 集成电路(IC) > 逻辑 > 锁存器
- TLC085CD - 集成电路(IC) > 线性 > 放大器 > 仪器,运算放大器,缓冲器
- OPA657NB/3KG4 - 集成电路(IC) > 线性 > 放大器 > 仪器,运算放大器,缓冲器
- TMDSCNCD280025C - 开发板,套件,编程器 > 评估板 > 嵌入式 MCU、DSP 评估板
- LM6142BIN/NOPB - 集成电路(IC) > 线性 > 放大器 > 仪器,运算放大器,缓冲器
- MSPS003F4SPW20R - 集成电路(IC) > 嵌入式 > 微控制器



SN74AUC2G00 - 双路 2 输入正与非门
SN74AUC2G00是TI德州仪器公司的一款无产品,SN74AUC2G00是双路 2 输入正与非门,本站介绍了SN74AUC2G00的封装应用图解、特点和优点、功能等,并给出了与SN74AUC2G00相关的TI元器件型号供参考。
SN74AUC2G00 - 双路 2 输入正与非门 - 无 - 小尺寸逻辑器件 - 德州仪器
产品描述
产品特性
- Available in the Texas Instruments NanoFree Package
- Optimized for 1.8-V Operation and Is 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal Operation
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Sub-1-V Operable
- Max tpd of 1.2 ns at 1.8 V
- Low Power Consumption, 10 µA at 1.8 V
- ±8-mA Output Drive at 1.8 V
- Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
NanoFree is a trademark of Texas Instruments.
DESCRIPTION/ORDERING INFORMATION
This dual 2-input positive-NAND gate is operational at 0.8-V to 2.7-V VCC, but is designed specifically for 1.65-V to 1.95-V VCC operation.
The SN74AUC2G00 performs the Boolean function Y = A B or Y = A + B in positive logic.
NanoFree package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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