
SN75477技术文档下载:
SN75477 - 产品图解:

TI芯片:
- LM2586T-5.0 - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > 稳压器 - DC-DC 开关稳压器
- CD74HC27E - 集成电路(IC) > 逻辑 > 门和反相器
- TAS5710EVM - 开发板,套件,编程器 > 评估板 > 音频放大器评估板
- TLVH431BCLPR - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > 电压基准
- LM393BIDGKR - 集成电路(IC) > 线性 > 比较器
- TLVH431QLPE3 - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > 电压基准
- M0L1305QDGS28RQ1 - 集成电路(IC) > 嵌入式 > 微控制器
- TLV2463AQPWRG4Q1 - 集成电路(IC) > 线性 > 放大器 > 仪器,运算放大器,缓冲器
- SN74LVC1G14DBVRG4 - 集成电路(IC) > 逻辑 > 门和反相器
- ADS7844EBG4 - 集成电路(IC) > 数据采集 > 模数转换器(ADC)
- SN74LS125ADBRG4 - 集成电路(IC) > 逻辑 > 缓冲器,驱动器,接收器,收发器
- DAC8734SRHAT - 集成电路(IC) > 数据采集 > 数模转换器(DAC)
- TPS62140EVM-505 - 开发板,套件,编程器 > 评估板 > DC/DC 和 AC/DC(离线)SMPS 评估板
- TPS54910PWPR - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > 稳压器 - DC-DC 开关稳压器
- TRSF3232EIDBR - 集成电路(IC) > 接口 > 驱动器,接收器,收发器
- TPS74650PQWDRBRQ1 - 集成电路(IC) > 电源管理(PMIC) > 稳压器 - 线性
- TPS2552DRVEVM-364 - 开发板,套件,编程器 > 评估板 > 评估和演示板及套件
- TRS3222EIDB - 集成电路(IC) > 接口 > 驱动器,接收器,收发器
- 74AVC4T245RSVRG4 - 逻辑 - 缓冲器,驱动器,接收器,收发器
- SN74AHCT32QPWR - 集成电路(IC) > 逻辑 > 门和反相器



SN75477 - 双路外设驱动器
SN75477是TI德州仪器公司的一款外围驱动器和传动器产品,SN75477是双路外设驱动器,本站介绍了SN75477的封装应用图解、特点和优点、功能等,并给出了与SN75477相关的TI元器件型号供参考。
SN75477 - 双路外设驱动器 - 外围驱动器和传动器 - 其它接口 - 德州仪器
产品描述
The SN75476 through SN75478 are dual peripheral drivers designed for use in systems that require high current, high voltage, and fast switching times. The SN75476, SN75477, and SN75478 provide AND, NAND, and OR drivers respectively. These devices have diode-clamped inputs as well as high-current, high-voltage clamp diodes on the outputs for inductive transient protection.
The SN75476, SN75477, and SN75478 drivers are characterized for operation from 0°C to 70°C.
产品特性
- Characterized for Use to 300 mA
- No Output Latch-Up at 55 V (After Conducting 300 mA)
- High-Voltage Outputs (100 V Typ)
- Output Clamp Diodes for Transient Suppression (300 mA, 70 V)
- TTL- or MOS-Compatible Diode-Clamped Inputs
- pnp Transistor Inputs Reduce Input Current
- Standard Supply Voltage
- Suitable for Hammer-Driver Applications
- Plastic DIP (P) With Copper-Lead Frame Provides Cooler Operation and Improved Reliability
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